理特性分析仪器及校准仪器采购需求概况:采购1台汞探针C-V测量仪,用于测量半导体材料外延层的掺杂浓度和均匀性。设备支持晶圆尺寸:3、4、5、6、8英寸兼容;载流子浓度测试范围:1E14/cm3~1E19/cm3;载流子浓度测试重复性:1
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